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  2. 學術成果
  3. 專書
    年度99
    等級
    書名Optimal Sample Size Allocation for Accelerated Degradation Test Based on Wiener Process
    出版社New Jersey: John Wiley & Sons
    全部作者Tseng, Sheng-tsaing; Balakrishnan, N.; Tsai, Chih-chun
    出版日期2011-03-01
    所屬計畫案Optimal Sample Size Allocation for Accelerated Degradation Test Based on Wiener Process
    備註專書單篇
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    • 更新日期:2022-11-24

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