年度109
    論文名稱Optimal Design for Accelerated-Stress Acceptance Test
    會議名稱IEEE Transactions on Reliability 64(2)
    會議開始時間2020-12-05
    全部作者Chih-Chun Tsai; Chien-Tai Lin; Narayanaswamy Balakrishnan
    備註會議論文