奈米顯微實驗室
主要設備： 場發射高解析穿透式電子顯微鏡 FE-HRTEM
設置年月： 2007 年 6 月
經費來源： 淡江大學
廠牌及型號： 日本 JEOL, JEM -2100F -HR ( 捷東公司代理 )
放置地點：淡水校區傳播館一樓 C136 ，奈米顯微實驗室
主要規格
電子束加速電壓 ： 200 KV
影像放大倍率： 60 - 1,500,000
影像解析度： Point ： 0.23 nm ； Lattice ： 0.1 nm
雙傾斜基座： X 軸 ±35° ； Y 軸 ±30°
主要配件
EDS (Energy Dispersive X-ray Analysis System, X光能量分佈分析儀 ) ： Oxford INCA Energy TEM 250 Microanalysis System with Si(Li) detector
Scanning Transmission Electron Microscope (STEM) ： 配備 HAADF Detector ； BF/DF Detector 影像解析度： 0.2 nm
Gatan CCD 數位影像系統： UltraScan 1000, 2k × 2k pixel 及 DigiScan II (for STEM image)
儀器性能
拍攝試片材料之晶格像、結構像、或繞射像，材料晶體結構、斷面、微細組織、缺陷等之觀察及分析，並可作元素成份之半定量分析。
試片製備設備
鑽石切割機 (Buehler IsoMet Low Speed Saw) 、 試片戳取器(Disc Punch)、截面製作工具組 (Cross-Section Kit) 、研磨 / 拋光機 (Allied 8 ”Grinder/Polisher) 、凹窩研磨機 (Gatan Dimple Grinder) 、 精密離子蝕薄機 (Gatan 691 PIPS) 、及金相顯微鏡 (Olympus BX51) 等裝置。
服務項目
經預約程序，本實驗室對本校各單位及其合作者提供以下免費服務：
TEM 試片之明暗視野影像 (bright field and dark field images) 、一般繞射影像、選區 繞射 (SAD) 影像、 STEM 結構像、收斂電子束繞射 (CBED) 影像、奈米束繞射 (NBD) 影像、 X光能譜分析 (EDS)元素成份影像等之拍攝。
試片製備設備之操作訓練；熟悉設備功能者可自行操作。
其他服務：寒暑假中，不定期實施之教育訓練課程
實驗室開放時間
一般時段：星期一至星期五上午 9:00 至下午 1:00 ，及下午 2:00 至 6:00
其它時段：為事先 預約、而本實驗室服務人員能夠配合的 時段
預約及管理辦法
申請人可親臨本實驗室登記，辦理預約申請
申請人可直接線上填寫並送交預約申請表
各項儀器 設備之操作皆須事先獲得管理人員之核可，並務必詳實填寫申請表及操作記錄
在一般時段 ， TEM 原則上是 由本實驗室服務人員代為操作
各單位 申請使用 TEM ，以每週不超過三個一般時段為原則。具備 TEM 操作資格者， 可申請其它時段，並依照相關規定操作。
第一次使用本系統者 ， 請先至本實驗室申請帳號及密碼方可使用線上預約系統
試片準備
試片大小：直徑 3 mm ，中央薄化穿孔。
粉體樣品需經正確處理及充分乾燥。
待測樣品應事先以光學顯微鏡判定是否具有足供進行 TEM 檢測分析的電子透明區域。
高速電子束照射下會分解或釋出氣體之樣品及強磁性材料恕不受理。
TEM操作資格認定
凡本校教師、研究人員及其合作者，曾接受電子顯微鏡操作訓練課程，並熟悉 Jeol -2100F類似機型之TEM操作者，經 本實驗室 管理人員核可後，可申請上機，進行受核可的操作。
奈米顯微實驗室之管理及聯絡
理學院已成立「奈米顯微實驗室管理委員會」，由院長及各系、所主任組成之，以統籌管理、維護及任務規劃，同時監督該實驗室之有效運作，以充分支援本院及本校各單位的相關研發工作。
實驗室之聯絡
實驗室負責老師：物理系 唐建堯老師 、鄭振益老師、林大欽老師、葉炳宏老師
實驗室服務人員 ： 黃國宗、陳皇欽 、李昀儒
電話： (02) 2621-5656 分機 2550
TEM設備簡介
一、2100F 主機
二、MSC (Multi-scan CCD)
三、STEM(Scanning transmission electron microscope)
四、EDS（X光能量分佈分析儀）
五、Sample holder