奈米顯微實驗室
主要設備: 場發射高解析穿透式電子顯微鏡 FE-HRTEM
設置年月: 2007 年 6 月
經費來源: 淡江大學
廠牌及型號: 日本 JEOL, JEM -2100F -HR ( 捷東公司代理 )
放置地點:淡水校區傳播館一樓 C136 ,奈米顯微實驗室
主要規格
電子束加速電壓 : 200 KV
影像放大倍率: 60 - 1,500,000
影像解析度: Point : 0.23 nm ; Lattice : 0.1 nm
雙傾斜基座: X 軸 ±35° ; Y 軸 ±30°
主要配件
EDS (Energy Dispersive X-ray Analysis System, X光能量分佈分析儀 ) : Oxford INCA Energy TEM 250 Microanalysis System with Si(Li) detector
Scanning Transmission Electron Microscope (STEM) : 配備 HAADF Detector ; BF/DF Detector 影像解析度: 0.2 nm
Gatan CCD 數位影像系統: UltraScan 1000, 2k × 2k pixel 及 DigiScan II (for STEM image)
儀器性能
拍攝試片材料之晶格像、結構像、或繞射像,材料晶體結構、斷面、微細組織、缺陷等之觀察及分析,並可作元素成份之半定量分析。
試片製備設備
鑽石切割機 (Buehler IsoMet Low Speed Saw) 、 試片戳取器(Disc Punch)、截面製作工具組 (Cross-Section Kit) 、研磨 / 拋光機 (Allied 8 ”Grinder/Polisher) 、凹窩研磨機 (Gatan Dimple Grinder) 、 精密離子蝕薄機 (Gatan 691 PIPS) 、及金相顯微鏡 (Olympus BX51) 等裝置。
服務項目
經預約程序,本實驗室對本校各單位及其合作者提供以下免費服務:
TEM 試片之明暗視野影像 (bright field and dark field images) 、一般繞射影像、選區 繞射 (SAD) 影像、 STEM 結構像、收斂電子束繞射 (CBED) 影像、奈米束繞射 (NBD) 影像、 X光能譜分析 (EDS)元素成份影像等之拍攝。
試片製備設備之操作訓練;熟悉設備功能者可自行操作。
其他服務:寒暑假中,不定期實施之教育訓練課程
實驗室開放時間
一般時段:星期一至星期五上午 9:00 至下午 1:00 ,及下午 2:00 至 6:00
其它時段:為事先 預約、而本實驗室服務人員能夠配合的 時段
預約及管理辦法
申請人可親臨本實驗室登記,辦理預約申請
申請人可直接線上填寫並送交預約申請表
各項儀器 設備之操作皆須事先獲得管理人員之核可,並務必詳實填寫申請表及操作記錄
在一般時段 , TEM 原則上是 由本實驗室服務人員代為操作
各單位 申請使用 TEM ,以每週不超過三個一般時段為原則。具備 TEM 操作資格者, 可申請其它時段,並依照相關規定操作。
第一次使用本系統者 , 請先至本實驗室申請帳號及密碼方可使用線上預約系統
試片準備
試片大小:直徑 3 mm ,中央薄化穿孔。
粉體樣品需經正確處理及充分乾燥。
待測樣品應事先以光學顯微鏡判定是否具有足供進行 TEM 檢測分析的電子透明區域。
高速電子束照射下會分解或釋出氣體之樣品及強磁性材料恕不受理。
TEM操作資格認定
凡本校教師、研究人員及其合作者,曾接受電子顯微鏡操作訓練課程,並熟悉 Jeol -2100F類似機型之TEM操作者,經 本實驗室 管理人員核可後,可申請上機,進行受核可的操作。
奈米顯微實驗室之管理及聯絡
理學院已成立「奈米顯微實驗室管理委員會」,由院長及各系、所主任組成之,以統籌管理、維護及任務規劃,同時監督該實驗室之有效運作,以充分支援本院及本校各單位的相關研發工作。
實驗室之聯絡
實驗室負責老師:物理系 唐建堯老師 、鄭振益老師、林大欽老師、葉炳宏老師
實驗室服務人員 : 黃國宗、陳皇欽 、李昀儒
電話: (02) 2621-5656 分機 2550
TEM設備簡介
一、2100F 主機
二、MSC (Multi-scan CCD)
三、STEM(Scanning transmission electron microscope)
四、EDS(X光能量分佈分析儀)
五、Sample holder